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半导体器件、其他类目未包括的电固体器件专利技术48

001 应用于红外线成像器与传感器的悬浮微结构及其制造方法
002 固体摄像装置及其制造方法
003 耐高温固态压阻式平膜力敏芯片及其制作方法
004 硅接合型二极管及其制造方法
005 辐射探测器
006 太阳能电池的制造及其在屋顶单元上的安装方法
007 包括一组有机发光器件的有机发光设备
008 化合物半导体发光器件的外延衬底及制造方法和发光器件
009 氮化镓系Ⅲ-Ⅴ族化合物半导体器件
010 氮化镓系Ⅲ-Ⅴ族化合物半导体器件
011 氮化镓系Ⅲ-Ⅴ族化合物半导体器件的制造方法
012 半导体元件及其制造方法
013 压电执行元件、其制造方法及喷墨头与喷墨式记录装置
014 多层反射膜及其制程
015 显示设备的制造方法
016 结晶装置、结晶方法、薄膜晶体管以及显示装置
017 感应耦合等离子体处理装置
018 一种p型导电的掺铟氧化锡薄膜
019 基极的结构及其制造方法
020 等离子体蚀刻方法及装置
021 等离子体处理装置以及等离子体处理方法
022 高密度电浆氧化沉积物的去除方法
023 护垫蚀刻程序后去除氟化铝缺陷的方法
024 制造半导体晶片的方法
025 超声波接合用接合工具
026 一种制备零收缩率低温共烧陶瓷多层基板的工艺
027 半导体模块及制造半导体模块的方法
028 电子部件安装设备及方法
029 复数个半导体封装结构的测试方法
030 探针板和半导体芯片的测试方法、电容器及其制造方法
031 能保持薄膜平面度的薄膜夹紧装置
032 基板用框架
033 介层窗的制造方法
034 半导体器件的制造方法
035 在晶粒表面形成结合粘性的晶圆处理方法
036 电源杂讯的分析方法及降低方法
037 包含铁电电容器的半导体器件及其制造方法
038 存储元件及制造方法
039 静态随机存取存储器单元的制造方法
040 非易失性半导体存储器的制造方法和非易失性半导体存储器
041 用于制造电子封装的半导体安装衬底和生产这种半导体安装衬底的生产过程
042 焊球组件及其生产方法,形成焊块的方法
043 弹性导电树脂及电子装置
044 包含应力调节覆盖层的互连结构及其制造方法
045 具有多级互连的半导体集成电路器件
046 半导体集成电路
047 一种集成电容及其制法
048 半导体存储器件和采用镶嵌位线工艺制造该器件的方法
049 非挥发性存储器的结构及其操作方法
050 高抗辐射的六角形栅极的快闪存储单元
051 存储器件的结构及其制造方法
052 静态型半导体存储器
053 双位罩幕式只读存储器的结构及其制造方法
054 图像传感器及其制造方法
055 场电极金属半导体场效应晶体管
056 用于调制掺杂的场效应晶体管的增强的T形栅极及其制造方法
057 半导体器件
058 电学感应源漏扩展区MOS晶体管及其制作方法
059 一种能够发射平行光的发光二极管
060 混光层和混光方法
061 发光二极管的构造改良
062 含有草酸铵的抛光系统及方法
063 半导体集成电路装置及其识别和制造方法以及半导体芯片
064 对准方法及装置
065 用于高度密封装应用的高性能的散热器结构
066 形成晶片级别芯片规模封装的方法及由此形成的封装
067 在引线框上形成倒装芯片半导体封装的方法
068 用于在集成电路中形成电池的设备和方法
069 半导体器件及其制造方法
070 III族氮化物半导体器件
071 铌基超导体及制造方法
072 观察装置及其制造方法、曝光装置和微型器件的制造方法
073 掺杂半导体层的方法、制造薄膜半导体器件的方法、及薄膜半导体器件
074 确定终点的方法以及半导体圆片
075 图样化的埋入绝缘体
076 表面金属污染的检测方法
077 信息存储装置及其制造方法
078 发光或感光半导体组件及其制造方法
079 半导体光检测器的制作方法
080 半导体元件
081 减少边缘接触的晶片搬运系统以及改进和使用该系统的方法
082 包括单晶膜的半导体结构
083 微电子器件的制造方法及由该方法制造的微电子器件
084 清洗晶片边缘的装置
085 臭氧处理方法及臭氧处理装置
086 处理方法和处理装置
087 自对齐磁性包层写入线及其方法
088 非挥发半导体记忆胞元及其半导体电路配置的制造方法
089 制作和CMOS电路集成在一起的异质结光电二极管的方法
090 脉冲控制的双稳态双向电子开关
091 双机电元件
092 用于均匀加热衬底的腔室
093 绝缘膜的蚀刻方法
094 硅晶片应用的助焊和填缝材料,和用其制造的层状电子组件
095 半导体瓦片结构与形成方法
096 磁阻存储元件
097 脉冲型双稳态双向电子开关
098 含光辐射元素的光源
099 电介质薄膜元件及使用它的执行元件、喷墨头和喷墨记录装置
100 载台系统及曝光装置,以及元件制造方法
101 用于预测加工形状的方法,用于确定加工条件的方法,加工方法,加工系统,半导...
102 电介质膜及其形成方法、半导体器件、非易失性半导体存储器件及半导体器件的制...
103 具有T型接触电极的半导体器件的制造方法
104 用于在印刷电路板中设置通路的方法和装置
105 陶瓷接合体
106 互连结构和无电镀引入互连结构的方法
107 具自行钝化铜合金之铜垫\接合\铜线
108 铁电存储装置及其制造方法
109 制造集成半导体存储装置的方法
110 半导体存储器件及其制造方法
111 采用衬底沟槽的非易失性存储单元
112 半导体装置
113 采用集成电路技术的光敏传感器
114 发光装置
115 电诱发纳米结构击穿的系统及方法
116 带有叠置适配器板的晶片搬运器
117 具有无源元件的半导体器件及其制备方法
118 尤其是用于光学器件、电子器件或光电器件的衬底的制造方法和经其得到的衬底
119 基片处理装置及基片处理方法、基片平坦化方法
120 利用特定晶体管取向的CMOS制造方法
121 同步形成电荷储存与位线至字符线隔离层的方法
122 使用嵌入式外壳有效减少电磁辐射的整体电容
123 信息存储装置和安装了该信息存储装置的电子设备
124 具有半导电层的基板、电子组件、电子电路、可印刷组合物,以及制造半导体基板...
125 短沟道碳化硅功率MOSFETS及其制造方法
126 自对准非易失性存储单元
127 成型横向沟槽光检测器的方法
128 复合光学元件及光接收元件装置
129 发光组件及其制造方法、可见光发光装置
130 增强界面热电冷却器
131 增强界面热电冷却器
132 场效应晶体管及其制备用的材料和方法
133 在半导体制造流程中防止晶圆污染的方法及装置
134 一种消除旁瓣图案的集成电路制造方法
135 氮化镓及其化合物半导体的横向外延生长方法
136 半导体器件及其制造方法
137 形成栅极结构及自对准接触孔结构的方法
138 沟槽与孔洞的构造及其填充方法
139 一种平整半导体晶片表面的方法
140 Si蚀刻方法及蚀刻装置
141 一种氮化镓材料的干法刻蚀方法
142 薄膜形成装置及形成方法
143 低介电常数材料的表面处理方法
144 可改善接面电性特性的自行对准金属硅化物的制造方法
145 形成自对准金属硅化物的方法
146 具有直立式洗净器的干蚀刻机台
147 一种阵列碳纳米管薄膜晶体管的制备方法
148 一种微距覆晶载板的结构及其制造方法
149 球栅阵列式半导体芯片封装制程
150 超声波接合方法及超声波接合装置
151 测试键结构
152 监测氧化层品质的方法
153 晶圆级预烧装置
154 集成电路的导线检测装置
155 用于生产空心封装型电子产品的盖板支架及使用该盖板支架的密封工艺
156 形成埋层电极板的方法
157 浅沟道隔离区形成方法
158 半导体器件及其制造方法
159 混合模式制程
160 制作一高密度电容的方法
161 引线框及其制造方法,以及用该引线框制造的半导体器件
162 具有柱型帽盖层的半导体器件及其制造方法
163 互连、互连形成方法、薄膜晶体管及显示器
164 静电放电保护电路
165 叠层式半导体器件
166 半导体器件及其制造方法
167 永久性硅/氧化物/氮化物/硅/氮化物/氧化物/硅存储器
168 存储电路、显示电路,以及显示装置
169 固态图像传感器和图像读取方法
170 借助晶体管从光电二极管读取信号的半导体器件
171 使用铁电栅极场效应晶体管的非易失性存储器和制造方法
172 镶嵌栅极多台面式金氧半场效应晶体管及其制造方法
173 半导体器件和半导体器件的制造方法
174 薄膜半导体装置及其制造方法
175 库仑岛型整流单分子二极管及其制备方法
176 一种发光二极管及其制法
177 氮化镓系发光二极管的结构及其制造方法
178 一种自组织量子点为有源区的超辐射发光管
179 高效高亮度多有源区隧道再生白光发光二极管
180 高密度数据存储介质及其制造方法
181 基于硅硅键合的全干法深刻蚀微机械加工方法
182 半导体装置的制造方法
183 周期结构宽带隙半导体氧化锌薄膜的制备方法
184 半导体元件的图案的形成方法
185 干光刻法及用其形成栅图案的方法
186 接触孔的成型方法
187 半导体芯片及其制造方法
188 用于制造半导体器件的方法
189 半导体器件的生产方法
190 制造具有低温多晶硅的顶栅型薄膜晶体管的方法
191 BGA集成电路植珠装置及工艺
192 半导体装置的树脂密封方法及装置
193 半导体器件制造方法
194 半导体元件的制造方法以及半导体元件
195 快速热退火工艺的每日监控的控片
196 掩模缺陷检查方法及其应用
197 于低介电材料层中形成导电结构的方法
198 生产半导体器件的方法及相应的半导体器件
199 在芯片设计的验证中建立无限测试矢量的方法
200 瓶型沟槽的形成方法
201 多芯片组件和多芯片关闭方法
202 半导体器件
203 电子器件模块
204 利用旋流以增加热传导率的导热管
205 热管装置和热管型换热器
206 导线框和制造导线框的方法
207 集成电路芯片组件
208 半导体封装和半导体装置
209 半导体装置
210 半导体装置
211 静电放电防护电路与相关的金属氧化半导体晶体管结构
212 具有非易失性数据存储电路的集成电路
213 半导体集成电路
214 集成电路电容器
215 半导体器件及其制造方法
216 半导体器件和半导体器件的制造方法
217 可电擦除可编程逻辑元件
218 薄膜晶体管阵列面板
219 固态成像设备及制造所述固态成像设备的方法


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